P系列紫外可见分光光度计 常用分析仪器
- 简介：P系列紫外可见分光光度计 型号 P6 比例双光束 紫外可见分光光度计 波长范围 190 ~ 1100 nm 光谱带宽 1nm 光学系统 比例双光束 波长准确度 0.5nm 波长重复性 0.3nm 杂散光 0.05 %T@ 220，360 nm 基线
产品详细
型号 |
P6 比例双光束 紫外可见分光光度计 |
波长范围 |
190 ~ 1100 nm |
| 光谱带宽 | 1nm |
| 光学系统 | 比例双光束 |
| 波长准确度 | ±0.5nm |
| 波长重复性 | ≤0.3nm |
| 杂散光 | ≤0.05 %T@ 220，360 nm |
| 基线漂移 |
≤0.0005A/h @ 500 nm，预热2小时后 |
型号 |
P5 比例双光束 紫外可见分光光度计 |
波长范围 |
190 ~ 1100 nm |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 光学系统 | 比例双光束 |
| 波长准确度 | ±0.5nm |
| 波长重复性 | ≤0.3nm |
| 杂散光 | ≤0.05 %T@ 220，360 nm |
| 基线漂移 |
≤0.0005A/h @ 500 nm，预热2小时后 |
型号 |
P4 单光束 紫外可见分光光度计 |
波长范围 |
190 ~ 1100 nm |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 光学系统 | 单光束 |
| 波长准确度 | ±0.5nm |
| 波长重复性 | ≤0.3nm |
| 杂散光 | ≤0.05 %T @ 220 nm & 360 nm |
| 基线漂移 |
≤0.002 A/h @ 500 nm，预热2小时后 |
型号 |
P1 单光束 紫外可见分光光度计 |
波长范围 |
195 ~ 1050 nm |
| 光谱带宽 | 2nm |
| 光学系统 | 单光束 |
| 波长准确度 | ±0.8nm |
| 波长重复性 | ≤0.4nm |
| 杂散光 | ≤0.2 %T @ 220 nm & 360 nm |
| 基线漂移 | ≤0.002 A/h @ 500 nm，预热2小时后 |
| 型 号 | P4 PC 紫外可见分光光度计 |
| 光学系统 | 单光束 |
| 光 源 |
钨灯 氘灯 |
|
光谱带宽 |
4nm |
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波长范围 |
190 – 1100nm |
|
波长准确度 |
±0.5nm |
|
波长重复性 |
≤0.2nm |
|
光度范围 |
-0.301 – 3A，0 – 200%T，0 – 9999.9C |
|
光度稳定性 |
≤0.002A/hr（500nm，预热2小时后） |
| 型 号 | P3 PC 紫外可见分光光度计 |
| 光学系统 | 单光束 |
| 光 源 |
钨灯 氘灯 |
|
光谱带宽 |
4nm |
|
波长范围 |
190 – 1100nm |
|
波长准确度 |
±0.5nm |
|
波长重复性 |
≤0.2nm |
| 光度稳定性 |
≤0.002A/hr（500nm，预热2小时后） |
| 杂散光 | ≤0.5%T |
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